X射線熒光分析法的原理·特點(diǎn)

先進(jìn)的分析性能

采用高性能的SDD檢測器，確保硬件更佳化，具有業(yè)內(nèi)聞名的高靈敏度·高速分析和高分辨率?？梢詸z測出6C～的機(jī)型正式上線（EDX-8100）。

高靈敏度 –提高檢測下限1.5～5倍-

高性能的SDD檢測器與更佳化的光學(xué)系統(tǒng)和一次濾光片的組合，實(shí)現(xiàn)業(yè)內(nèi)聞名的高靈敏度。
從輕元素到重元素，全范圍輕松應(yīng)對。與采用傳統(tǒng)Si（Li）半導(dǎo)體檢測器的分析裝置相比，靈敏度也更勝一籌。

高速 –分析速度最大可提高10倍-

SDD檢測器在單位時間內(nèi)X射線熒光的計數(shù)率高，因此能夠在更短的檢測時間內(nèi)進(jìn)行高精度分析。特別是對金屬材料的分析，這個特點(diǎn)可以得到更大限度的發(fā)揮。

無需液氮

SDD檢測器為電子制冷方式，無需液氮冷卻。不僅可以從繁瑣的液氮補(bǔ)充作業(yè)中解放出來，更可以降低儀器的維護(hù)成本。

檢測元素范圍

· 用EDX-8100進(jìn)行15P以下的輕元素分析時，需要真空檢測單元或者氦氣置換檢測單元（均為選購件）。

準(zhǔn)直器和一次濾光片自由組合

準(zhǔn)直器和一次濾光片獨(dú)立驅(qū)動，無限制自由組合。可以選擇6種×4種=24種組合。
同時，所有組合均可對應(yīng)FP法進(jìn)行定量分析。